1: 10^-9
2: 10^-3
3: 10^-6
4: 10^0
Welche Aussage trifft auf das elektrolytische Polieren ?
Das Werkstück wird als Kathode geschaltet
Es ist ein elektrochemisches Abtragverfahren mit Fremdstromquelle
Der Abtrag erfolgt ohne mechanische oder thermische Belastung
Die Entgratung ist möglich im Mikro- und Makrobereich
Die Elektrolyte sind umweltfreundlich
Dunkelfeld
(Chemisch)- Physikalisches Ätzen
Besitzt gleiche atomare Anordnung
Besitzt konstante stoffliche Zusammensetzung
Verhinderung des Abplatzens von Schichten
Bessere Handhabung der Probe
Elektrolytisches Polieren
Elektropolieren
Duplexgefüge
1: Substituiertes Fremdatom
2: Stufenversetzung
3: Leerstelle
4: Schraubenversetzung
Warmeinbetten
Herstellungsfehler- bzw. Fremdeinschlüsse
Rissausbreitung und Bruchfläche
Auswirkungen von Verschleiß und Korrosion
DIC verwendet ein doppelbrechendes Prisma
DIC eignet sich, um kleine Höhenunterschiede sichtbar zu machen
einphasiges Gefüge
Polarisation
mit lambdasonde
Größe, Form, Anordnung, Dichte
Form
Verteilung
Größe
Anordnung (Orientierung)
Dichte
Bestimmung von Phasengrenzen
Schichtdickenbestimmung
Korngrößenbestimmung
Porositäsanalyse
Phasenanteilanalyse (Video)
Sie haben zumeist einen negativen Einfluss auf die Gebrauchseigenschaften.
Sie entstehen bei der Herstellung.
Sie sind eine Phase des Werkstoffes.
Astigmatismus
Chromatische Aberration
Schärfefehler
Koma
Verzeichnung
(sphärische Aberration, Bildfeldwölbung)
Polarisation! - Analysator und Licht in einem Kegel
Dunkelkontrast dient zur Charakterisierung von korngrenzen und ausscheidungen
Diese Methode eignet sich besonders zur Abbildung mechanischer Oberflächenstörungen, wie Risse, Bearbeitungsspuren, Einschlüsse, Poren oder Lunker.
schräg = seitlich
Was kann das quantitative system nicht detektieren?
chemische Zusammensetzung
Topografie
(Phasenanteil) laut video möglich
DIC
Bildfeldwölbung
1 char. Röntgenstrahlung
Röntgenbremsstrahlung
Die Probenoberfläche muss elektrisch leitfähig sein
Die Probe muss vakuumfest sein
1. Auger-Elektronen -> chemische Zusammensetzung
2. Sekundärelektronen -> Oberflächennahme Information/ Topografie
3. Rückgestreute Elektronen -> Information aus µm-Tiefe/ Materialkontrast
4. Röntgenemission -> chemische Zusammensetzung (tiefer als Auger)
Cu-L_alpha: 0,93
Cu-K_alpha: 8,04
Zn-K_alpha: 8,63
Orientierungsmapping
Phasenmapping
Bildgüte
Hochvakuum Modus
Channeling Modus
Probenbedampfung
Resolution Modus
Niedervakuum Modus
Niedervakuum-Modus
Auger , chark. Röntgenstr und se
Sekundäre Elektronen
Rückstreuelektronen
Auger Peak
Orienitierung der Körner
SEI -> Wechselwirkung: Emission: Sekundärelektronen -> Kontrast: Information: Topographie
Sekundärelektronen
Compo -> Wechselwirkung: Emission: Rückstreuelektronen -> Kontrast: Information: Materialkontrast
Korngrenzen
Verformung
1 nm = 0,001 µm
Ni
Al
Ag
Ultramikrotomie
Schleifen, Polieren und Verdünnung in einer Ionenmühle
Fokussierter Ionenstrahl (FIB)
Abbildungsmodus
Beugungsmodus
Die Flugzeit der ausgelösten Ionen wird gemessen. (daraus bestimmung der Masse)
Durch die Feldverdampfung werden Ionen ausgelöst.
Die Ionen treffen auf einen ortsempfindlichen Detektor
viele Kristalle, Polykristall
Einkristall, Monokristall
Quanitifizierung topografischer Vorgänge bei der Kavitationserosion
Topologieänderung bei der martensitischen Phasenumwandlung
Charakterisierung der Gleitstufen von austenitischen Stählen
Magnetkraftmikroskopie
Das Licht wird durch das Objektiv auf eine Lochblende fokussiert
Der Punkt in der Mitte der Lochblende und der Beleuchtungspunkt im Präparat sind gleichzeitig im Fokus
eine punktförmige Lichtquelle wird abgebildet
Nichtleitfähige Proben können untersucht werden.
Hochauflösende Topografieabbildung der Oberfläche kann erzeugt werden
Van der Waals Kräfte
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