Klausur

1: 10^-9

2: 10^-3

3: 10^-6

4: 10^0

Es ist ein elektrochemisches Abtragverfahren mit Fremdstromquelle

Der Abtrag erfolgt ohne mechanische oder thermische Belastung

Die Entgratung ist möglich im Mikro- und Makrobereich

Dunkelfeld

(Chemisch)- Physikalisches Ätzen

Besitzt gleiche atomare Anordnung

Besitzt konstante stoffliche Zusammensetzung

Verhinderung des Abplatzens von Schichten

Bessere Handhabung der Probe

Elektrolytisches Polieren

Elektropolieren

Duplexgefüge

1: Substituiertes Fremdatom

2: Stufenversetzung

3: Leerstelle

4: Schraubenversetzung

Warmeinbetten

Herstellungsfehler- bzw. Fremdeinschlüsse

Rissausbreitung und Bruchfläche

Auswirkungen von Verschleiß und Korrosion

DIC verwendet ein doppelbrechendes Prisma

DIC eignet sich, um kleine Höhenunterschiede sichtbar zu machen

einphasiges Gefüge

Polarisation

mit lambdasonde

Dunkelfeld

Größe, Form, Anordnung, Dichte

Form

Verteilung

Größe

Anordnung (Orientierung)

Dichte

Bestimmung von Phasengrenzen

Schichtdickenbestimmung

Korngrößenbestimmung

Porositäsanalyse

Phasenanteilanalyse (Video)

Sie haben zumeist einen negativen Einfluss auf die Gebrauchseigenschaften.

Sie entstehen bei der Herstellung.

Sie sind eine Phase des Werkstoffes.

Astigmatismus

Chromatische Aberration

Schärfefehler

Koma

Verzeichnung

(sphärische Aberration, Bildfeldwölbung)

Polarisation! - Analysator und Licht in einem Kegel

Dunkelkontrast dient zur Charakterisierung von korngrenzen und ausscheidungen

Diese Methode eignet sich besonders zur Abbildung mechanischer Oberflächenstörungen, wie Risse, Bearbeitungsspuren, Einschlüsse, Poren oder Lunker.

schräg = seitlich

chemische Zusammensetzung

Topografie

(Phasenanteil) laut video möglich

DIC

Bildfeldwölbung

1 char. Röntgenstrahlung

1. Röntgenbremsstrahlung

Die Probenoberfläche muss elektrisch leitfähig sein

Die Probe muss vakuumfest sein

1. Auger-Elektronen -> chemische Zusammensetzung

2. Sekundärelektronen -> Oberflächennahme Information/ Topografie

3. Rückgestreute Elektronen -> Information aus µm-Tiefe/ Materialkontrast

4. Röntgenemission -> chemische Zusammensetzung (tiefer als Auger)

Die Probenoberfläche muss elektrisch leitfähig sein

Die Probe muss vakuumfest sein

1. Cu-L_alpha: 0,93

2. Cu-K_alpha: 8,04

3. Zn-K_alpha: 8,63

chemische Zusammensetzung

1. Orientierungsmapping

2. Phasenmapping

3. Bildgüte

Niedervakuum-Modus

Probenbedampfung

Auger , chark. Röntgenstr und se

1. Sekundäre Elektronen

2. Rückstreuelektronen

3. Auger Peak

Orienitierung der Körner

1. SEI -> Wechselwirkung: Emission: Sekundärelektronen -> Kontrast: Information: Topographie

2. Sekundärelektronen

3. Compo -> Wechselwirkung: Emission: Rückstreuelektronen -> Kontrast: Information: Materialkontrast

4. Rückstreuelektronen

Korngrenzen

Verformung

1 nm = 0,001 µm

1. Ni

2. Al

3. Ag

Ultramikrotomie

Schleifen, Polieren und Verdünnung in einer Ionenmühle

Fokussierter Ionenstrahl (FIB)

Abbildungsmodus

Beugungsmodus

Die Flugzeit der ausgelösten Ionen wird gemessen. (daraus bestimmung der Masse)

Durch die Feldverdampfung werden Ionen ausgelöst.

Die Ionen treffen auf einen ortsempfindlichen Detektor

1. viele Kristalle, Polykristall

2. Einkristall, Monokristall

Quanitifizierung topografischer Vorgänge bei der Kavitationserosion

Topologieänderung bei der martensitischen Phasenumwandlung

Charakterisierung der Gleitstufen von austenitischen Stählen

Magnetkraftmikroskopie

Das Licht wird durch das Objektiv auf eine Lochblende fokussiert

Der Punkt in der Mitte der Lochblende und der Beleuchtungspunkt im Präparat sind gleichzeitig im Fokus

eine punktförmige Lichtquelle wird abgebildet

Nichtleitfähige Proben können untersucht werden.

Hochauflösende Topografieabbildung der Oberfläche kann erzeugt werden

Van der Waals Kräfte