Variante 1: Mikrowellen-Fotoleitfähigkeitsabfall
Überschüssige Ladungsträgerkonzentration korreliert mit dem Photoleitwert und der Photoleitwert korreliert mit der Reflektivität von Mikrowellen.
Die oben dargestellte transiente Strommessmethode wird häufig verwendet (nicht wie in unterer Abbidlung), da die notwendigen Variablen aus der Formel leichter bestimmbar sind.
Variante 2: Quasi-steady-state-Photoluminescence
Ein konstanter Laserstrahl wird auf einen kristallinen Siliziumwafer gerichtet, um überschüssige Ladungsträger zu erzeugen. Außerdem wird ein Strahlleiter verwendet um das Lichtsignal zu überwachen. Das Photolumineszenzsignal wird durch die strahlende Rekombination der überschüssigen Ladungsträger im Wafer erzeugt und mit einem Detektor gemessen. Der gemessene Zeitversatz zwischen Erzeugung und Rekombinationssignal stellt die Ladungsträgerlebensdauer dar.
Variante 3: Lichtinduzierte Strahlstrommessung
Light Beam Induced Current (LBIC) ist eine gut etablierte und einfach aufzubauende Methode für die ortsaufgelöste Messung von rekombinationsaktiven Defekten in kontaktieren Solarzellen mit pn-Übergang. Die Methode basier auf Kurzschlussstrommessungen, während die Solarzelle mit einer Laserlichtquelle beleuchtet wird.
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